簡介
IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
特點
智能化軟件操作：可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動調(diào)整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
譜圖管理：IR孔透過率測試儀可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案：用戶可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結(jié)果更準確。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標準數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
CIE顏色測量功能：可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)，x，y，L，a，b，飽和度，主波長等。
數(shù)據(jù)報告打印功能：可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。
技術(shù)參數(shù)
型號DMS(1型)DMS(2型)
探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍380-1000nm360-1100nm
波長分辨率1nm1nm
信噪比(全信號)250：11000：1
相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
單次測量時間﹤1s
樣品尺寸≥Φ1mm
操作系統(tǒng)/接口WindowsXP，WindowsVista/USB2。0
電源/功率220V-50HZ/6W
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